因为任何产品在运送、使用、保存、中会产生碰撞、振动,使产品在某一段时间产生不良，严重影响产品的使用和不必要的经济损失，为了避免这事态的发生我们就要提早知道产品或产品中的部件的耐振寿命。
振动试验能够发现的故障模式？
1、结构的强度。
2、结合物的松脱。
3、保护材料的磨损。
4、零部件的破损。
5、电子组件的接触不良。
6、电路短路及断续不稳。
7、各零件之标准值偏移。
8、提早将不良件筛检。
9、找寻零件、结构、包装与运送过程间之共振关系。
振动试验方案如何确定？
列举一个常规的测试方案，仅供参考：
1、随机振动试验：10Hz~200Hz,加速度谱密度0.5（m/s2）2/Hz; 200Hz~500Hz,加速度谱密度1.0（m/s2）2/Hz; 振动三个相互垂直的方向，每方向振动1小时；
2、正弦振动试验：10Hz~2000Hz，扫频速率1oct/min,加速度20m/s2,每个方向循环扫频10次循环，扫频振动三个相互垂直的方向；
振动试验按照什么标准？
GB/T 2423.56-2006电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则
GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）
GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》
GJB150.16-86《军用设备环境试验方法 振动试验》
MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》
GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》
GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法214随机振动试验
MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》
GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》4.7.38 振动
GJB4.7-83《舰船电子设备环境试验 振动试验》
GJB548A-96 《微电子器件试验方法和程序》
MIL-STD-883D 《微电子器件试验方法和程序》
振动试验的合格判据是什么？
正弦振动试验、随机振动试验、机械冲击试验后外观结构应无损害，产品上电应能工作正常。
实验室电话：136 9109 3503.
[VIP第2年] 指数:3
