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电子产品高温贮存试验的费用及试验报告

放大字体  缩小字体 发布日期:2022-06-11  来源:114检测网  作者:13691093503  浏览次数:57
电子电器:电子产品高温贮存试验高温贮存试验,低温贮存试验,湿热试验,温度循环试验 高低温及湿度试验参考标准 1.温度渐变的低温试验(GB/T24243.1) 试验温度:-30℃±3℃
 通常工作试验2小时即可,低温贮存24h,高温贮存48小时或按产品条件具体选择测试时长;

高温试验详细介绍:本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。

参考的测试标准:GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364, MIL-STD-810F等。

低温试验介绍:本试验是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。

参考的测试标准:GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364, MIL-STD-810F等。

交变湿热试验:高低温交变湿热试验是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试项目,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

测试参考标准:GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.3、GB/T 2423.4 。

温度冲击试验介绍:本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。

参考的测试标准:IEC60068-2-14,GB2423.22,GJB150.5等

快速温变试验介绍:本试验是用来确定产品在高温、低温快速或缓慢变化的气候环境下的储存、运输、使用的适应性。试验过程是以常温-低温-低温停留-高温-高温停留-常温作为一个循环,温度循环试验的严苛程度是以高/低温度范围、停留时间以及循环数来决定的。
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