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某光栅传感器振动冲击跌落测试试验

放大字体  缩小字体 发布日期:2017-10-22  来源:振动冲击跌落测试试验  作者:114检测网  浏览次数:125
产品信息:近日,北京可靠性试验及电磁兼容试验检测中心为某厂家的某光栅传感器提供了振动冲击跌落测试试验。检测依据按照:GB2423.10,GB2
  近日,北京可靠性试验及电磁兼容试验检测中心为某厂家的某光栅传感器提供了振动冲击跌落测试试验。

检测依据按照:GB2423.10,GB2423.5,GB2423.8.

振动试验:正弦扫频振动试验,频率10hz-500hz,加速度5g,振动方向:X,Y,Z三方向,每方向振动30min;

冲击试验:半正弦波冲击,加速度为5g,脉冲持续时间:30ms,X,Y,Z三方向,每方向冲击3次共计9次冲击。

跌落试验:带包装跌落,跌落高度为1m,跌落六个面,每个面各3次共计18次跌落。

实验室完全按照ISO/IEC17025:2005《检测和校准实验室能力的通用要求》(CNAS-CL01)《检测和校准实验室能力认可准则》)的要求开展测试服务,秉承:管理科学,公平公正;操作规范,数据准确;安全保密,廉洁自律的质量方针和第三方公正实验室的职业道德,热诚为国内客户提供标准、检测、认证工作的全方位服务。

 
 
 
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