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北京高低温测试 环境适应性测试实验室

做高低温环境适应性测试出具检测报告

 
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产品: 浏览次数:356北京高低温实验室|高低温测试检测报告 
品牌: test114
测试类型: 气候环境试验
检测时长: 2个工作日
检测报告: 5个工作日
单价: 90.00元/小时
最小起订量: 1 小时
供货总量: 19999 小时
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2018-06-26 12:37
详细信息
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军工电子产品设备高低温湿热测试实验室主要提供的检测项目:高温贮存、低温贮存、低温工作、高温工作、温度冲击、盐雾、淋雨、沙尘、自由跌落、振动、湿热、机械冲击、霉菌、太阳光辐射等等。
 
(一)我方军品测试实验室可以为您提供下列的环境试验服务并出具CNAS、CMA国家认可的检测报告!
 
1.高温贮存试验:
贮存温度:+65℃;
稳定时间:48小时;
测试指标:恢复到常温进行外观和性能检查。

2.高温工作试验:
工作温度:+50℃;
温度时间:24小时;
测试指标:测试过程中考查产品的性能。
 
3.低温贮存试验:
贮存温度:-50℃;
稳定时间:24小时;
测试指标:恢复到常温进行外观和性能检查。
 

4.低温工作试验:
工作温度:-40℃;
温度时间:24小时;
测试指标:测试过程中考查产品的性能。
 
5.温度冲击试验:
测试温度:-50℃~+65℃;
温度稳定时间:达到高温、低温条件时各保持2小时;
温度转换时间:小于3min.
测试指标:试验完成后测试产品的性能是否完好。
 
6.盐雾试验:
温度:35℃,盐溶液浓度5%;
喷雾方式:24小时喷雾,24小时干燥;
循环次数:2次,共计96小时;
测试指标:样品表面无明显锈蚀,涂层无明显脱落。
 
7.振动试验:
振动方向:X、Y、Z三个相互垂直方向;
振动时间:3小时(每方向1小时);
振动条件:GJB50.16A-2009中模拟运输振动条件C1曲线;
测试指标:考查产品外观结构无损坏,上电能正常工作。
 
8.自由跌落试验:
跌落高度:1.2米;
跌落方向:面、角、楞各跌落1次;
测试指标:考查产品外观结构无损坏。
 
9.湿热试验:
试验条件:湿度95%,温度60℃,按GJB150.9A-2009标准进行;
试验时间:每个周期为24小时,共计10个周期240小时;
中间检测:在第5个或第10个循环周期的末尾进行性能测试;
测试指标:外观结构完好,上电测试产品的性能。
 
10.机械冲击试验:
冲击波形:半正弦波;
冲击方向:三个相互垂直的方向,x、y、z向;
冲击次数:每方向冲击3次,共计9次冲击;
测试指标:试验后外观结构完好,上电能正常工作。
 
(二)军品测试实验室环境试验常用检测依据:
1.低温试验
舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-1983
舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-1983 
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001
军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验 GJB 150.4A-2009
 
2.高温试验
舰船电子设备环境试验 高温试验GJB 4.2-1983
电子及电气元件试验方法  GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001
军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验 GJB 150.3A-2009
 
3.交变湿热试验
舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB4.6-1983
电子及电气元件试验方法  GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001
军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验 GJB 150.9A-2009

4.恒定湿热试验
电子及电气元件试验方法  GJB 360B-2009 
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
 
5.振动试验
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001
军用装备实验室环境试验方法 第16部分:振动试验 GJB 150.16A-2009
舰船电子设备环境试验 振动试验   GJB 4.7-1983
电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-1990 
电子及电气元件试验方法  GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
 
6.温度变化
电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-1990 
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001

7.跌落试验
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001
军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验 GJB 150.18A-2009
 
 
8.机械冲击
舰船电子设备环境试验 冲击试验  GJB 4.9-1983 
电子及电气元件试验方法  GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001
军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验GJB150.18A-2009 
 
9.盐雾试验
舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB 4.11-1983
电子及电气元件试验方法  GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001
军用装备实验室环境试验方法 第11部分:盐雾试验 GJB150.11A-2009 

军用计算机通用规范 GJB322A-1998
电子及电气元件试验方法GJB360B-2009
军用通信设备通用规范 GJB367A-2001
军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验 GJB150.5A-2009