高加速寿命试验(HALT:Highly Accelerated Life Test)是一种发现设计缺陷的试验方法，它通过开展逐级递增的环境应力试验,来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障设计、工艺和物料等多方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的。其最大的特点是施加高于样品设计工作极限的环境应力，从而使得激发故障的时间大大短于正常工作应力条件下所需的时间。
产品的规格书一般只会提供产品的规格，也就是生产商所承诺的产品工作的限值，而这个限值通常都会偏保守，而用户如果超规格使用需要承担相应的风险。高加速寿命试验的试验应力水平会超出产品规格的限值来激发产品的潜在失效。某些应力会存在上下的限值(例如温度)，而某些应力则只存在上限值(例如振动)。
对于存在上下限值的应力，可以用不同的应力水平进行定义。当达到某个应力水平时产品功能出现不稳定或者功能失效，但是恢复到正常条件后工作亦恢复正常的，我们称之为工作极限，通常工作极限意味着产品的某个零部件在极限应力条件下发生了参数漂移或者瞬断，相应的工作极限和产品规格之间的距离称之为工作裕度。
相对应的，如果达到某个应力水平时产品功能出现不稳定或者功能失效，但是恢复到正常条件后工作亦无法恢复正常的，我们称之为破坏极限，通常破坏极限意味着产品的某个零部件发生了物理失效而无法恢复，相应的破坏极限和产品规格之间的距离称之为破坏裕度。
HALT试验主要包括5项试验项目，分别是温度步进试验(低温步进试验+高温步进试验)、温度循环试验、振动步进试验和综合试验。
HALT 试验项目顺序：
1、低温步进试验；
2、高温步进试验；
3、温度循环试验；
4、振动步进试验；
5、综合试验。
HALT 试验如果发现问题需要退回到上一个应力水平再次进行测试来判断是否为工作极限并进行记录，如果恢复到上一个应力水平依然出现失效，则需要恢复至常温进行检查是否为破坏极限。
对于当前试验的工作极限值低于标准要求的，需要对样品的失效导入临时的解决方案(特定元器件更换更高规格的型号、对特定元器件进行隔离、对特定功能进行屏蔽或者更换新的样品等)，从而继续在更高的应力水平下开展试验来充分激发产品的潜在失效。HALT 基本原则是尽可能在一次试验中发现全部的潜在失效，从而在下一次的设计变更中对所有的失效进行改善，从而实现缩短开发周期和提高产品可靠性水平的目的。
需要做高速寿命试验HALT试验需要提前确认好试验方案，实验室准备好液氮、夹具等辅助材料，约定好测试时间，开展试验，出具检测报告，国家认可的CNAS,CMA检测报告。
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