低气压试验，是用设备模拟高空气压环境，将试验样品放入试验箱（室），然后将箱（室）内气压降低到有关标准规定的值，并保持规定持续时间的试验。用来确定元件、材料、设备或其他产品在低气压条件下贮存、运输或使用的适应性、耐电击穿能力；确定密封元件耐受气压差不破坏的能力；检验低气压对元件工作特性的影响及低气压下的其他效应；有时候可用于确定机电元件的耐久性。
低气压试验是常温条件下的低气压试验。若装置元件的设备将在低温低气压及高温低气压的综合条件下贮存和使用，而且能够断定高低温和气压的综合作用是造成失效的主要原因，常温低气压试验不能使用时，则应进行温度-气压综合环境试验。适用范围：可为电子、仪器仪表、汽车以及航天产品的元器件、结构件、组件以及整机等开展低气压试验。
军用通信设备低气压(高度)测试试验的流程
（1）测试准备：确定测试设备和测试参数，如低气压度和测试时间等。
（2）设备安装：将待测试设备安装在测试装置中，并且确保接口连接正确和稳定。
（3）低气压(高度)模拟：启动测试装置，降低环境气压，模拟高海拔和低气压环境。
（4）设备工作状态监测：监测设备在低气压下的工作状态、稳定性和通信质量等参数。
（5）测试结果分析：根据测试数据和参数，评估设备在低气压(高度)环境下的性能和可靠性。
（6）报告撰写：撰写详细的测试报告，包括设备信息、测试参数、测试结果和分析等。
低气压相关标准：
GB2421-1989《电工电子产品基本环境试验规程总则》
GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验方法》
GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM ：高温/低气压综合试验方法》
GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法》
GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法》
GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》
GB T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验M 低气压试验方法
GJB 150.2-1986军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验
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