一、 湿度影响电子产品的基本原理
要理解湿度如何造成破坏,首先需明白其作用机理。水分子(H₂O)体积小、极性性强,具有极高的渗透性和化学活性。其影响主要通过物理和化学两种途径实现:
物理作用:
冷凝:当环境温度降低至露点以下,空气中的水蒸气会凝结成液态水,附着在元器件表面、PCB板(印制电路板)以及内部结构中。液态水是良导体,会直接导致电路短路。
吸附:即使未达到露点,水分子也能被材料的表面所吸附,形成几个到几十个分子层厚的水膜。这层看不见的水膜,是许多化学反应的“催化剂”和物理失效的“帮凶”。
吸收:某些非金属材料(如塑料封装体、PCB基板、粘合剂)会吸收环境中的水汽,导致其体积膨胀、性能退化(如介电常数改变、机械强度下降)。
化学作用:
电化学腐蚀:这是最普遍且危害最大的失效机理。吸附在金属表面(如引脚、焊点、线路)的水膜,溶解了空气中的污染物(如CO₂、SO₂、Cl⁻离子),形成电解液。在不同电位的金属之间形成原电池,从而引发阳极金属的腐蚀,如铜线的锈蚀、银的迁移、焊点的断裂。
水解反应:高温高湿环境会加速水分子与材料发生化学反应。例如,水汽能渗入塑料封装体内部,与芯片粘接剂发生水解,导致封装开裂(Delamination);与PCB基板中的树脂发生水解,导致板材膨胀、起泡(俗称“爆板”)分层。
热力学作用:电子产品在运行时会发热,关机后则会冷却。这种反复的“加热-冷却”循环,会使其内部空腔和材料缝隙中的水汽经历“吸入-呼出”的过程。在回流焊(SMT生产中的高温焊接过程)时,吸收了大量水汽的元器件内部会产生极高的蒸汽压,导致内部损伤和开裂。
二、 详尽的失效模式分析
基于上述原理,湿度引发的失效模式多种多样,几乎涵盖了电子产品的所有方面。
1. 电气性能失效
漏电流增加与绝缘电阻下降:PCB板的绝缘层、元器件引脚间距、开关触点间的表面,一旦形成水膜,就不再是完美的绝缘体。水膜及其溶解的离子会形成导电通路,产生显著的漏电流。这会导致信号失真、功耗增加、模拟电路精度下降,甚至逻辑电路误动作。对于高压电路(如电源模块),漏电流更是致命的风险。
短路(Short Circuit):这是最直接、最灾难性的失效。冷凝水或污染水膜桥接了两个本不该连接的电路走线或元件引脚,造成瞬间的大电流,烧毁元器件。例如,手机进水后立即黑屏关机,往往是电源线路短路触发保护或造成物理损坏。
电介质击穿:电容器等元件的核心是电介质材料。水汽的侵入会改变电介质的特性,降低其介电强度。在高压下,被水汽弱化的电介质更容易被击穿,导致电容器永久性失效。
接触电阻增大与接触失效:连接器、开关和继电件的金属触点表面会形成氧化膜或硫化膜。水汽的存在,特别是与硫、氯等污染物结合,会急剧加速这种腐蚀过程。腐蚀产物是不导电的,导致触点接触不良、电阻增大、信号中断或功率损耗。例如,汽车电子连接器因潮湿腐蚀导致车窗升降失灵是常见故障。
2. 腐蚀失效
电化学迁移(Electrochemical Migration, ECM):这是湿度引发的典型且复杂的失效模式。在直流电场和水膜电解液的共同作用下,金属阳极(正极)的金属离子(如Ag⁺、Cu²⁺)溶解并通过水膜向阴极(负极)迁移,最终在阴极还原成金属枝晶(Dendrite)。这些枝晶不断生长,最终桥接两个电极,造成短路。银迁移最为常见,但铜、锡甚至铅也会发生迁移。
导线与焊点腐蚀:元器件引脚(通常是铜合金或铁合金)和PCB上的铜导线,在潮湿环境下会发生氧化和电化学腐蚀。腐蚀会使得导线变细、电阻增大,甚至彻底断裂。焊点(通常是锡铅或锡银铜合金)的腐蚀会导致其机械强度下降,在热应力或振动下容易开裂,造成开路失效。
蠕变腐蚀(Creep Corrosion):这是一种特殊形式的腐蚀,常见于含硫气氛(如工业区、温泉)与高湿结合的环境。硫化物气体腐蚀银或铜后,产生的腐蚀产物(如硫化银、硫化铜)不是停留在原处,而是在水汽的帮助下像苔藓一样“爬”过绝缘表面,甚至跨越保护层,最终导致相邻线路间的短路。
3. 物理与机械性能失效
爆米花效应(Popcorning):这是塑料封装器件(如IC芯片)在回流焊时的一种典型破坏。如果器件在储存时吸收了过多水汽,在焊接瞬间经历200°C以上的高温,内部水汽急剧汽化产生高压。此压力足以使芯片封装体从内部撕裂、分层,甚至发出“噗”的声响,故得名。一旦发生,芯片内部通常已严重损伤,功能失效。
分层与开裂(Delamination & Cracking):水汽会渗入材料界面,如芯片与封装塑料之间、PCB的不同层压之间。结合热应力,会导致各层材料分离(分层)。分层会破坏热传导路径(导致过热)和电学连接(导致开路)。严重时,分层会扩展为宏观的裂纹。
材料膨胀与变形:PCB的基材(FR-4等)和某些塑料会吸湿膨胀。这种膨胀可能是不均匀的,导致PCB板弯曲变形(Bow and Twist)。在组装中,变形的PCB会导致焊接不良;在运行中,变形会施加应力于焊点,加速其疲劳失效。
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