一、低温试验目的
低温试验主要适用于评价元件、组件、系统、设备或其他产品在低温环境条件下的使用、运输或贮存的能力。
二、低温试验常规检测项目
低温工作/运行试验;低温贮存试验;低温启动试验。
低温工作试验:整个试验期间受试产品连续通电工作运行;
低温贮存试验:整个试验期间受试产品处于断电不工作运行;
低温启动试验:先让受试产品达到温度稳定,一般稳定时间为1小时~4小时不等,待温度稳定后对受试产品进行通电工作运行。
三、低温试验项目核心参数
低温温度点、保持时间、温度变化速率、受试产品状态等。
四、低温试验方法
1、预处理
预处理按照相关规范要求进行。
2、初始检测
通过目视检查产品外观或者按照相关规范要求进行功能检查。
3、条件试验
受试产品应按照规定的低温条件下暴露至规定的持续时间。
对于受试产品不能达到温度稳定的情况除外,试验持续时间是从产品通电时开始计算的。特别地,这种情况是由于那些具有长时间工作循环的产品而引起的。
4、中间检测
根据相关规范的要求在条件试验中间或条件试验结束时进行加负载和测量,规范应规定测量的内容和时间间隔,试验间的测量,受试产品不应移出温度箱。
5、恢复
受试产品在标准环境条件下进行恢复,恢复时间应足够使温度达到稳定,至少1小时。
恢复过程中若有要求需要进行通电或其他加载测量,应按规范的要求执行。
也有些产品不要求进行恢复,这跟相关的规范要求有关。
6、最后检测
应对受试产品进行目视检查或进行相关的功能检查。
GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》低温试验方法是验证电工电子产品低温环境可靠性的核心手段,通过标准化、可复现的低温应力模拟,精准复刻产品高寒储存、长途冷链运输、户外低温服役的真实工况。严格遵循该试验方法开展摸底与型式试验,可提前暴露产品材料选型缺陷、结构设计漏洞、电气低温适配问题,从研发端优化产品耐寒性能,有效降低产品批量投放市场后的低温故障概率,保障各类电工电子设备在低温环境下长期稳定运行。
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