点击图片查看原图温度冲击试验：-60摄氏度~+85摄氏度，温度转换时间小于3分钟，高低温温度点各保持1小时，共循环10次；
正弦振动试验：5hz~5.5hz,位移峰峰值25.4mm；5.5hz~30hz,加速度15m/s2；30hz~50hz,位移峰峰值0.84mm;50hz~500hz,加速度42m/s2；扫频速率为1oct/min,振动三个相互垂的方向，每方向循环20次。
该被测设备在温度冲击和正弦振动试验后，外观结构无损坏，能正常读写数据，符合委托方的判决要求。据计算机基础标准GB/T9813.1-2016计算机通用规范第1部分：台式微型计算机进行试验。
硬盘测试项目示例：
1、正弦振动试验：测试频率5Hz-60Hz,位移峰峰值2.0mm，60Hz-150Hz,加速度0.1g,振动三个相互垂直的X,Y,Z向，扫频速率1Oct/min,循环次数10次；
2、随机振动试验：测试频率5Hz-200Hz,加速度均方根值为1.4m/s2，振动三个相互垂直方向，每方向振动1小时。
3、机械冲击试验：冲击波形半正弦波，加速度30m/s2,脉冲持续时间18ms,冲击三个相互垂直方向的正反向，每方向冲击3次，共计18次冲击。
4、谐振搜索、共振保持：测试频率5Hz-150Hz，扫频速率1oct/min,扫频1次循环，搜索共振点，比如在共振频率点上振动2小时，若没有共振点，则在最高频率点150Hz上振动2小时。
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