芯片高低温测试_高低温循环测试标准GB/T2423-2001

高低温测试又叫作高低温循环测试，是环境可靠性测试中的一项。基本上所有的产品都是在一定的温度环境下存储保存，或者工作运行。有些环境下的温度会不断变化，时高时低。114检测网，这种不断变化的温度环境会造成产品的功能、性能、质量及寿命等受到影响，会加速产品的老化，缩短产品的使用寿命。如果产品长期处于这种大幅度交替变化的高温、低温环境下，则需要具备足够的抗高低温循环的能力。这样我们就需要模拟一定的环境条件，对产品进行高低温测试。

 

​高温测试：是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间；

 

高温测试分为：高温工作、高温启动、高温贮存。

 

低温测试：是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。

 

低温测试分为：低温工作、低温启动、低温贮存。

 

 

 

1、将样品进行试验前的检测，确保性能功能完好；

 

2、将受试样品放进温度箱，摆放在中间位置，电源线信号线从温箱的出口出来，和辅助设备搭接完成；

 

3、开启温度箱控制程序，设定温度点，保持时间，温度变化速率等条件，确认各事项准备完毕后，开启试验程序。

 

4、试验中的检查，观察受试样品是否处于正常工作状态。

 

5、试验后最后检查，若是贮存试验，试验后观察产品的性能和功能是否发生改变。

 

 

 

电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007

 

电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B：高温 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007

 

包装 运输包装件基本试验 第 2 部分：温湿度调节处理GB/T 4857.2－2005，ISO 2233:2000

 

汽车电气设备基本技术条件 QC/T 413-2002

 

道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第 4 部分：气候负荷 GB/T 28046.4-2011，ISO 16750-4:2006

 

军用装备实验室环境试验方法 低温试验 GJB150.4A-2009

 

军用通信设备通用规范 GJB367A－2001

 

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998

 

轨道交通 机车车辆电子装置 IEC60571:2006

 

轨道交通 机车车辆电子装置 EN 50155:2017

 

 

 

低温贮存24小时

 

高低温工作4小时或2小时

 

高温贮存48小时

 

​高低温启动2小时或1小时

 

 

试验后，五个工作日出具检测报告。

 

 

 

CNAS,CMA

 

 

国家权威检测机构，科研院所检测机构，出具第三方CNAS,CMA检测报告。