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仪器自带 CpK、Cp 等品质统计功能，便于生产过程管控；支持截屏、数据记录与参数保存，配备 Handler 接口可实现自动化联机操作，应用于半导体、薄膜、导电涂层、金属材料、陶瓷等领域的研发与批量质检，是材料电阻率与方阻测试的稳定有效的解决方案。
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